XRF鍍層測厚儀:
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等;
功能:精密測量金屬電鍍層的厚度;
應(yīng)用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從12(Mg)到92(U);
5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;
元素光譜定性分析;
測試方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
應(yīng)用群體主要集中在:電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等;
原理:X射線熒光
什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的一個(gè)特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長范圍在0.1-100Å;能量大于100電子伏特.
什么是X射線熒光?X射線熒光 是一個(gè)原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。
射線管的對比:
微焦X射線管在更小的束斑下,激發(fā)更高的熒光X射線強(qiáng)度, 更高計(jì)數(shù)率,改善分析精度,到達(dá)更小的激發(fā)X射線束斑.